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              孔径测量

              更新时间:2020-05-08

              简要描述:

              孔径测量,可以用于检定ASME X,XX,XXX级精度的环规,相当于可以检定国内二等环规。 通过一整套完善的量值传递机构可以快速精确的找到环规的直径拐点,这其中其大作用的是两只消除了摩擦力影响的位移传感器。

              孔径测量

              这是一台在很多校准实验室采用的标定环规的计量设备,由于其独特的设计和可靠的表现至今没有被其他产品代替。可以用于检定ASME X,XX,XXX级精度的环规,相当于可以检定国内二等环规。 通过一整套完善的量值传递机构可以快速精确的找到环规的直径拐点,这其中其大作用的是两只消除了摩擦力影响的位移传感器。孔径测量这是一台可以测量百万分之一级内外尺寸的仪器,同时可以用来测量一些高精度的盘类零件。

              孔径测量技术描述

              • 测量范围: 内尺寸: 300mm,外尺寸:279mm

              • 重复精度; ±0.025µm

              • 测头量程: ±40µm

              • 示值误差:0.25%量程

              • 测头材料:金刚石

              • 重量:306kg

              • 仪器高度:1422mm

              • 工作台尺寸:279mm x 406mm

              • 占地尺寸:406mm x 508mm

              • 数字输出接口RS232C

              • 电源:230V±10%   50-60Hz

               

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